기술현황 S/W 기술

Automatic Optical Inspection System - Posis technology

S/W 기술
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■ Segment Processing & Labeling Technology

  • - 초고속처리(실시간 처리) 가능

■ 다양한 방법에 의한 신호분석

  • - 신호분석 및 형태분석에 의한 결점검출 및 분류
  • - 정확한 결점 Size평가

■ 정확한 판단에 의한 Fails Call 최소화

  • - 생산수율 향상 및 불량유출 극소화

■ 실시간 처리 및 결과표시(Sheet)

■ 실시간 처리 및 결과표시(Web)

■ 검사조건을 사용자가 직접 입력하여 제품별 및 고객별 요구수준을 만족시킬 수 있음

  • - 검사영역설정
  • - 검사감도설정
  • - 결점별 검출크기 설정
  • - 결점별 가중치설정













■ 모든 결점 영상 저장 및 출력

■ 결점 경향분석, 통계처리 및 자료 생성

■ Slit별 결점정보 추출 및 출력

■ 결과 Excel 변환

■ 실시간 결점분포 표시

■ 각종 결과표 출력